技術文章
TECHNICAL ARTICLES
更新時間：2024-01-10
點擊次數：438
目前的半導體產業(yè)正面臨CMOS微縮極限的挑戰(zhàn),業(yè)界需要通過半導體封裝技術的不斷創(chuàng)新和發(fā)展來彌補性能上的差距。不過，這同時也帶來了日益復雜的封裝架構和新的制造挑戰(zhàn),當然，同時更是增加了封裝故障的風險。而這些發(fā)生故障的位置往往隱藏于復雜的三維結構之中,傳統的故障位置確認方法似乎已經難以滿足高效分析的需求了。因此，行業(yè)需要新的技術手段來有效地篩選和確定產生故障的根本原因。而可以無損表征樣品三維結構的XRM技術剛好迎合了半導體行業(yè)的這一需求，通過提供亞微米和納米級別的3D圖像，這一技術可以讓科研人員在完整的封裝3D結構中的快速找出隱藏其中的特性與缺陷。
實例一 PCB電路板焊球缺陷檢測
PCB內部（焊球）結構正交三視圖
 |  |
| 切片圖，焊球裂紋（左圖） 三維體渲染圖，焊球空洞（右圖） | |
實例二 芯片內部引線及焊接點檢測
二維投影圖
二維投影圖（局部放大）
三維體渲染圖.
三維體渲染圖（局部放大）
掃一掃，關注公眾號
服務電話：
021-34685181
上海市松江區(qū)千帆路288弄G60科創(chuàng)云廊3號樓602室
wei.zhu@shuyunsh.com
當前位置：
