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技術(shù)文章

TECHNICAL ARTICLES

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  • 20236-7
    德國(guó)弗萊貝格|臺(tái)式PID檢測(cè)儀用于EVA及其它封裝材料的評(píng)估

    EVA評(píng)估不同的EVA薄膜與來自同一批次和同一玻璃的太陽能電池的比較PIDcon的測(cè)量設(shè)置PIDcon可以通過使用一個(gè)模擬模塊的樣品堆來調(diào)查EVA箔對(duì)PID敏感性的影響。用戶只需將太陽能電池、需要調(diào)查的EVA箔和玻璃放在上面。當(dāng)然,必須使用同一批次的太陽能電池和同一玻璃進(jìn)行比較。在圖1所示的例子中,兩種EVA薄膜的PID敏感度有明顯的差異。EVA1比EVA2更適合用于模塊。

  • 20236-7
    德國(guó)弗萊貝格-生產(chǎn)監(jiān)控|電池片PID測(cè)試儀PIDcon bifacial

    根據(jù)IEC62804標(biāo)準(zhǔn)PIDcon的測(cè)量設(shè)置PIDcon測(cè)量的典型結(jié)果電勢(shì)誘導(dǎo)退化(PID)是光伏電站的一個(gè)嚴(yán)重的可靠性問題。因此,調(diào)查其產(chǎn)品的PID敏感性是很重要的。PIDcon的目的是使生產(chǎn)商能夠在生產(chǎn)鏈中盡早地測(cè)試他們的產(chǎn)品,并調(diào)查封裝材料。PIDcon允許對(duì)標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)單元進(jìn)行常規(guī)質(zhì)量控制,測(cè)試新工藝、材料或?qū)拥淖兓?duì)各種模塊步驟進(jìn)行鑒定。請(qǐng)注意,這里考慮的PID是由于高電壓應(yīng)力引起的漏電電流(PID-s)導(dǎo)致的太陽能電池的分流。PIDcon的結(jié)構(gòu)實(shí)際上與IEC標(biāo)準(zhǔn)...

  • 20236-7
    德國(guó)弗萊貝格PIDcon bifacial|雙面電池的可逆與不可逆PID快速測(cè)試解決方案

    論文來源:K.Sporlederetal.,QuicktestforreversibleandirreversiblePIDofbifacialPERCsolarcells部分摘要:雙面PERC電池背面PID會(huì)導(dǎo)致嚴(yán)重的功率損失。與單面PERC太陽能電池相比,可以發(fā)生可逆的去極化相關(guān)電位誘導(dǎo)衰退(PID-p)和不可逆的腐蝕電位誘導(dǎo)衰退(PID-c)。研究表明,一個(gè)可靠的評(píng)估太陽能電池功率損失的方法需要一種改進(jìn)的PID測(cè)試方法,需要在高壓測(cè)試上附加光照。此外,還需要在測(cè)試方案中...

  • 20234-8
    衍射數(shù)據(jù)庫(kù)卡片是晶體學(xué)教育和交流的重要途徑

    衍射數(shù)據(jù)庫(kù)卡片又稱為晶體結(jié)構(gòu)卡片或者晶胞卡片,是一種用于描述晶體結(jié)構(gòu)信息的標(biāo)準(zhǔn)化格式。這些卡片通常包含著晶體學(xué)家在分析晶體時(shí)所得到的重要數(shù)據(jù),例如晶格參數(shù)、空間群、原子坐標(biāo)等等。衍射卡片可以作為研究晶體結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ),也可以作為共享晶體結(jié)構(gòu)信息的重要途徑。衍射數(shù)據(jù)庫(kù)卡片最初由國(guó)際晶體學(xué)聯(lián)合會(huì)(IUCr)于1965年提出,并于1985年進(jìn)行了更新。目前有多個(gè)常用的衍射卡片標(biāo)準(zhǔn),包括CIF(CrystallographicInformationFile)、PDB(ProteinDat...

  • 20234-6
    X射線三維顯微鏡在材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域發(fā)揮重要作用

    X射線三維顯微鏡(X-ray3Dmicroscopy)是一種可以在納米尺度下對(duì)樣品進(jìn)行成像的技術(shù)。它能夠提供高分辨率的三維結(jié)構(gòu)信息,能夠在材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域發(fā)揮重要作用。X射線三維顯微鏡的工作原理基于X射線的特性。當(dāng)X射線射入樣品時(shí),樣品中的物質(zhì)會(huì)吸收、散射或反射部分光子。通過探測(cè)器記錄這些光子,就可以推斷出樣品的三維結(jié)構(gòu)。與傳統(tǒng)的兩維投影成像不同,三維顯微鏡可以獲取大量的數(shù)據(jù),并使用計(jì)算機(jī)算法將這些數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為三維圖像。這種技術(shù)通常需要使用X射線聚焦光束,以獲...

  • 20233-19
    晶圓片晶錠壽命檢測(cè)儀的組成與特點(diǎn)介紹

    晶圓片晶錠壽命檢測(cè)儀是一種重要的設(shè)備,用于測(cè)試半導(dǎo)體器件的質(zhì)量和壽命。它是半導(dǎo)體工業(yè)中不可缺少的關(guān)鍵設(shè)備之一。晶錠壽命檢測(cè)儀采用高精度測(cè)量技術(shù),能夠檢測(cè)和分析晶圓片和晶錠的性能、品質(zhì)和壽命。在半導(dǎo)體工業(yè)中,晶圓片和晶錠是制造芯片的主要原材料,所以其質(zhì)量和壽命非常重要。晶錠壽命檢測(cè)儀可以通過對(duì)晶圓片和晶錠進(jìn)行測(cè)試,評(píng)估其質(zhì)量是否達(dá)標(biāo),并選擇適合的材料進(jìn)行生產(chǎn)。晶圓片晶錠壽命檢測(cè)儀主要由測(cè)試器、控制系統(tǒng)和軟件組成。測(cè)試器是檢測(cè)儀的核心部分,它可以對(duì)晶圓片和晶錠的性能和壽命進(jìn)行精準(zhǔn)...

  • 20233-17
    談?wù)凱DF衍射卡片在生活中的應(yīng)用

    PDF衍射卡片,顧名思義,是一種使用衍射原理來讀取信息的卡片。這種卡片的設(shè)計(jì)利用了特殊的圖案,當(dāng)這些圖案與光線相遇時(shí),會(huì)產(chǎn)生衍射光,從而生成一些奇妙的圖像和信息。衍射卡片的制作非常簡(jiǎn)單,只需將需要顯示的圖案印在卡片上,并將卡片與光源垂直放置,便可展現(xiàn)出獨(dú)特的效果。PDF衍射卡片在生活中有很多實(shí)用的應(yīng)用,如:用于身份驗(yàn)證,防偽和保安系統(tǒng)。此外,衍射卡片也被廣泛用于教育和娛樂領(lǐng)域中,例如制作幻覺圖案、探索光學(xué)奧秘等等。在教育領(lǐng)域中,衍射卡片常常被用來幫助學(xué)生了解光學(xué)原理。通過觀察...

  • 20232-12
    TOC總有機(jī)碳分析儀適用范圍和方法有哪些?

    TOC總有機(jī)碳分析儀采用便攜式設(shè)計(jì),使用起來十分輕便,方便移動(dòng)至取樣點(diǎn),采用嵌入式系統(tǒng),觸摸屏設(shè)計(jì),純中文操作方便簡(jiǎn)單,針對(duì)制藥用水總有機(jī)碳含量的檢測(cè)設(shè)計(jì),進(jìn)行檢測(cè),配備大量的儲(chǔ)存空間,能夠存儲(chǔ)大量的測(cè)試數(shù)據(jù),在使用、貯存和更換過程中不需要?dú)怏w或試劑,無移動(dòng)部件,減少維修和維護(hù)成本。當(dāng)測(cè)試樣品濃度超過規(guī)定限度,會(huì)觸發(fā)儀器的自動(dòng)報(bào)警功能,并輸出控制信號(hào),這個(gè)功能在測(cè)定TOC值時(shí)十分有用。TOC總有機(jī)碳分析儀適用范圍:1、該儀器用于測(cè)試純水、制藥工業(yè)去離子水和注射用水的有機(jī)碳含量...

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